Обязательный курс, 72 часа, форма отчетности: экзамен

Лектор: Трифонов А.С.

Программа курса "Основы сканирующей зондовой микроскопии"

• Техника Сканирующей Зондовой Микроскопии. Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов. Сканирующие элементы (сканеры) зондовых микроскопов. Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца. Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий. Формирование и обработка СЗМ изображений. Типы зондов сканирующих зондовых микроскопов, типы датчиков сканирующих зондовых микроскопов, типы систем позиционирования.

• Методы Сканирующей Зондовой Микроскопии. Сканирующая туннельная микроскопия. Атомно-силовая микроскопия. Метод камертона. Магнитная/емкостная/токовая микроскопия. Метод Кельвина и электросиловой методы. Оптические методики: ближнепольные и дальнопольные. Многопроходные методики сканирующей зондовой микроскопии. Методы литографии и манипулирования в сканирующей зондовой микроскопии. Измерения в специальных средах.

• Точность измерения физических величин, достоверность полученных данных, артефакты измерений. Точность измерения физических величин, достоверность полученных данных, артефакты измерений.

• Конкретные реализации Сканирующих Зондовых Микроскопов.

• Обзор научных результатов, полученных при помощи сканирующей зондовой микроскопии.